《電子技術應用》
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基于LM3S1138的OLED壽命檢測儀
來源:電子技術應用2012年第5期
黨宏社, 張 芳
陜西科技大學 電氣與信息工程學院, 陜西 西安710021
摘要: 設計并實現了一種OLED壽命檢測儀。該檢測儀以LM3S1138微控制器為核心,包括數控電壓輸出電路、數控恒流源電路和光強測量電路,并增加了環境溫度補償功能,以提高檢測的準確性。該檢測儀可以同時對8路OLED器件進行自動測量、顯示并保存檢測結果。
關鍵詞: LM3S1138 OLED 壽命 檢測
中圖分類號: TP216
文獻標識碼: B
文章編號: 0258-7998(2012)05-0074-03
OLED lifetime detector based on LM3S1138
Dang Hongshe, Zhang Fang
School of Electrical & Information Engineering, Shaanxi University of Science and Technology, Xi’an 710021,China
Abstract: An OLED lifetime detector was designed and achieved. LM3S1138 was used as the microcontroller core. Programmable voltage output circuit, constant current source circuit and light intensity measuring circuit were designed, and ambient temperature compensation function was added for improving detection accuracy. The detector can simultaneously measure 8 OLED devices, display and save the results automatically.
Key words : OLED; lifetime; detect; LM3S1138

    有機電致發光二極管OLED(Organic Light-Emitting Diode)是一種新型平板顯示器件。相比于傳統的CRT、LCD,OLED具有低功耗、高亮度、主動發光、響應速度快、無視角問題及柔性化顯示等優勢,具有廣闊的應用前景,被認為是最有可能替代液晶顯示的器件[1]。

    壽命較短是制約OLED產業化的關鍵因素。在OLED的研制過程中,壽命是表征器件性能的一項重要指標[2-3]。目前,用于OLED壽命測量的儀器種類很少,針對OLED壽命測量的研究大多停留在實驗室階段。
    本文介紹了一種基于LM3S1138的有機電致發光二極管壽命檢測儀。該檢測儀成本低、體積小、操作方便;提供給被測器件的恒流數值和恒壓數值的大小均可任意設定,能夠滿足對不同規格OLED器件壽命進行測試的要求;能夠同時對一組8個OLED器件的壽命進行測試;通過測量環境溫度實現溫度補償,改善溫度變化對亮度測量結果的影響,提高測量的準確性。
1 壽命檢測原理
    為了測試出OLED的壽命,采用通用的正向恒流反向恒壓的驅動模式,即在其兩端施加給定的電壓和電流驅動,使器件在規定的測試條件下點亮。器件的發光強度與通過的電流成正比。隨著時間的推移,有機物的老化導致被測器件的閾值電壓和歐姆電阻不斷增加,通過器件的電流則不斷減小,發光亮度亦隨之減弱。亮度下降為起始亮度的1/2時所用的時間稱為半衰期[4]。
    測量有機電致發光器件的壽命可通過測量其半衰期來實現。因此,需要測量被測器件的起始亮度、起始時間及發光亮度衰減到起始亮度一半時所用的時間。
2 總體方案設計
    如圖1所示,檢測儀部分主要包括微控制器、數控電壓輸出電路、數控恒流源電路、光強測量電路、液晶顯示及提示和按鍵電路。

    數控電壓輸出電路用于向被測器件提供反向恒壓;數控恒流源電路用于向被測器件提供正向恒流源;光強測量電路用于測量被測器件的發光強度;按鍵電路用于設置本次測試的電壓值和恒流值;液晶顯示與提示用于顯示半衰期測量時間、當前溫度和工作狀態等。
    采用型號為LM3S1138的嵌入式微控制器,相比于PC機和單片機在實現OLED壽命檢測方面具有如下優勢:高性能的32位運算能力;成本與傳統8位和16位器件相當;自帶實時振蕩器,無需外擴時基電路就能實現高精度的時間測量;ADC模塊轉換分辨率為10位,支持8個輸入通道,速率達1 MS/s,保證了在每次測量過程中可同時對一組8個被測器件進行測量,提高了測量效率;16 KB SRAM和64 KB Flash,內存大小滿足存儲要求,無需外擴存儲器;自帶內部溫度傳感器,用于測量環境溫度;通信接口電路可將測量數據上傳至PC機,實現更復雜的數據分析等功能。
3 硬件設計
3.1 數控電壓輸出電路

    如圖2所示,數控電壓輸出電路用于給被測有機電致發光二極管提供數控的可調電壓。通過設定所需的電壓,經微控制器以數字量形式輸出,由D/A轉換器DAC7513轉換為模擬量電壓值并輸入運算放大器LM324,通過U2A放大電路輸入到U2B的同相端,由于U2B的反相端與同相端電壓相同,因此,三極管Q1的射極輸出電壓即為給定的電壓。

    使用電壓測量反饋電路用于調整加到被測器件上的輸出電壓,實際輸出電壓為給定電壓和反饋電壓之和,從而提高了測量的準確性。
3.2 數控恒流源電路
    如圖3所示,數控恒流源電路用于給被測有機電致發光二極管提供數控的恒流源。通過設定所需的電流,經微控制器以數字量形式輸出,由D/A轉換器轉換為模擬量電壓值,該模擬信號輸入運放LM324的同相端。由于反相端與同相端電壓相等,實際輸入的電流即為反相端輸出電壓與電阻R3的比值,將該電流通過Q2漏極輸出提供給被測發光器件,等效于在被測器件上加入給定數值的恒流源。

3.3 光強測量電路
    測量被測器件的發光亮度,一般方案是采用輝度計,但輝度計價格昂貴,若要實現對多個被測器件的同時測量,其成本很高。考慮到光電池造價便宜、易于安裝,且在恒定溫度下,由于光電池的暗電流近似于零,光電池的輸出電流與照射到光電池上的光強成線性關系[5],本檢測儀使用光電池的輸出電流表征被測器件的亮度信息。
    光測量電路如圖4所示,使用波長范圍為380 nm~800 nm的光電池,由于光電池的輸出電流很小,電路中還需要對微弱的電流信號進行轉換及放大,再經過微控制器自帶的A/D轉換器轉換,微控制器對轉換后的數字信號進行運算,判斷輸出電壓值是否衰減到了原來值的一半,即被測器件的發光亮度是否衰減到了原來的一半。


3.4 溫度補償
    在正常工作條件下,當測量過程中的環境溫度上升時,光電池的輸出電流會隨之緩慢增加,由于OLED壽命測量是一個長時間檢測的過程,在這一過程中的溫度變化對光電池輸出電流的改變很可能影響到對被測器件發光亮度的判斷。因此,采用LM3S1138自帶的溫度傳感器測量工作過程中的環境溫度,利用線性插值法判斷不同溫度下對應的光測量電路/輸出電壓,用曲線擬合的方法建立特性曲線的數學模型,并將相應的參數以線性表的形式存入內存。
    實際測量過程中,當環境溫度發生變化時,微處理器按照線性表查找對應溫度的輸出電壓值,利用軟件方式實現對光測量電路輸出電壓的補償,改善了溫度變化對亮度測量結果的影響,提高了測量的準確性。
3.5 按鍵與顯示
    按鍵電路用于設置檢測的電壓值和恒流值。包括五個開關按鍵,功能分別為“設置/確認”、“參數選擇”、“光標移位”、“加1”和“減1”。
    液晶顯示與提示電路包括LCD液晶顯示器和紅色發光二極管。液晶顯示器LM12864用于顯示設定的電壓值、設定的電流值、測試時間、當前溫度及半衰期的值(半衰期沒有到時,顯示空白)。紅色發光二極管為工作過程提示信號燈,二極管的交替亮滅用于提示測試人員,表示測量是否結束。
4 軟件設計
    OLED壽命檢測儀的軟件主程序流程如圖5所示。

 

 

    如圖5所示,以單次測量為例,將被測有機電致發光二極管放置在一個光線密閉的測量裝置中,檢測儀上電,微處理器運行初始化程序。通過外部鍵盤進行參數設置,微控制器對被測器件兩端施加給定的測試電壓值和測試電流值,并啟動計時程序。測量過程中,利用液晶顯示器實時顯示給定參數及工作狀態;利用裝置內的溫度傳感器獲取環境溫度的變化,軟件方式實現溫度補償;利用裝置內的光電池獲取器件的發光強度,通過A/D轉換的結果判斷亮度衰減量。當光強測量電路的輸出電壓值達到初始值的一半時,停止計時,顯示并保存被測器件的半衰期。若要對所測數據進行更為復雜的分析,則運行串口通信程序將數據上傳至上位機PC中,否則,即完成一次測試過程。
    對被測OLED器件進行壽命測試實驗的結果表明,基于LM3S1138的OLED壽命檢測儀能夠調整施加在被測器件兩端的電壓和電流,針對不同規格的被測器件均能使其在規定的條件下正常工作,使用范圍廣;同時測量8個器件,大大縮短了測試時間,測試效率高;測試過程中使用溫度補償改善了溫度變化對亮度結果的影響,準確性高。檢測儀操作簡單、使用方便、效果顯著。
參考文獻
[1] TANG C W, VIGIER VanSlyke, VIGIER S A. Organic electroluminescent diodes[J]. IEEE Applied Physics Letters, 1987,51(12):913-915.
[2] KATZ H E, Huang Jia. Thin-film organic electronic devices[J]. Annual Review of Materials Research, 2009, 39:71-92.
[3] 王云景,方勇軍. OLED顯示器件的原理及應用[J]. 儀表技術,2007(8):32-34.
[4] 余樹福,胡典鋼,王堅,等.多通道OLED器件壽命分析測試系統研制[J]. 液晶與顯示,2011,26(4):532-537.
[5] 陳志明,朱文清,張志林,等.有機電致發光器件壽命測試系統[J].光電子·激光, 2006,17(11):1349-1350.

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