《電子技術(shù)應(yīng)用》
您所在的位置:首頁 > 模擬設(shè)計(jì) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > eFuse失效分析與可靠性電路設(shè)計(jì)
eFuse失效分析與可靠性電路設(shè)計(jì)
2023年電子技術(shù)應(yīng)用第1期
晏穎1,曹玉升1,張睿2
1.上海飛聚微電子有限公司, 上海201316;2.浙江大學(xué) 微納電子學(xué)院,浙江 杭州310014
摘要: 電編程熔絲(eFuse)基于電子遷移原理,通過熔斷熔絲使其電阻特性發(fā)生不可逆改變來實(shí)現(xiàn)編程操作。提高可靠性是eFuse系統(tǒng)和電路優(yōu)化設(shè)計(jì)的核心目標(biāo)。從eFuse工作原理以及失效模式分析入手,重點(diǎn)介紹了影響其可靠性的系統(tǒng)原因和主要機(jī)理及過程,并在綜合常規(guī)電路設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上,結(jié)合考慮各種工作模式下和具體模塊中存在的影響可靠性的因素,最后提出了具有針對(duì)性的電路設(shè)計(jì)解決方案。
中圖分類號(hào):TN406
文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222961
中文引用格式: 晏穎,曹玉升,張睿. eFuse失效分析與可靠性電路設(shè)計(jì)[J]. 電子技術(shù)應(yīng)用,2023,49(1):26-31.
英文引用格式: Yan Ying,Cao Yusheng,Zhang Rui. Failure analysis of eFuse and reliability circuit design[J]. Application of Electronic Technique,2023,49(1):26-31.
Failure analysis of eFuse and reliability circuit design
Yan Ying1,Cao Yusheng1,Zhang Rui2
1.Shanghai Feiju Microelectronic Corporation, Shanghai 201316,China; 2.School of Micro-Nano Electronics, Zhejiang University, Hangzhou 310014,China)
Abstract: Based on the principle of electron migration, eFuse realizes the programming operation by fusing the fuse to change its resistance characteristics irreversibly. High reliability is the core goal of eFuse system and circuit optimization design. This paper starts with the working principle and failure mode analysis of eFuse, and then focuses on the system causes and processes affecting its reliability. Based on the comprehensive conventional circuit design, combined with the factors affecting reliability in various working modes and specific modules, finally, a set of targeted circuit design solutions are proposed.
Key words : eFuse;reliability;failure mode;circuit design

0 引言

    eFuse(Electrically Programmable Fuse)技術(shù)于2004年由IBM公司首次發(fā)布,它基于電子遷移原理工作,即通過電流流過導(dǎo)體時(shí)產(chǎn)生的質(zhì)量輸運(yùn)現(xiàn)象使得導(dǎo)體的電阻屬性發(fā)生變化[1]。具體來說,eFuse就是在其熔絲兩端加上電壓,在電流流過時(shí)發(fā)生電子遷移導(dǎo)致其電阻值增大或者產(chǎn)生焦耳熱使其發(fā)生熱斷裂。eFuse用作存儲(chǔ)器時(shí),數(shù)據(jù)存儲(chǔ)是通過保持或改變?nèi)劢z的電阻值實(shí)現(xiàn)的,讀出數(shù)據(jù)則是基于將熔絲的電阻值轉(zhuǎn)換成電壓值、再判別輸出的過程。可見,熔絲電阻特性的變化以及電阻電壓轉(zhuǎn)換過程的穩(wěn)定性直接影響eFuse的可靠性。其中,熔絲電阻特性與工藝狀態(tài)、材質(zhì)屬性、編程條件、電遷移過程等存在關(guān)聯(lián),影響因素很多。而電阻電壓轉(zhuǎn)換穩(wěn)定性則和電路及版圖設(shè)計(jì)、工作環(huán)境、工藝器件特性等有強(qiáng)相關(guān)性[2-4]。本研究基于系統(tǒng)及電路優(yōu)化的策略,通過完善功能電路設(shè)計(jì)、增加針對(duì)性的控制模塊和電路等來提高eFuse可靠性。




本文詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)下載:http://m.viuna.cn/resource/share/2000005071




作者信息:

晏穎1,曹玉升1,張睿2

(1.上海飛聚微電子有限公司, 上海201316;2.浙江大學(xué) 微納電子學(xué)院,浙江 杭州310014)

此內(nèi)容為AET網(wǎng)站原創(chuàng),未經(jīng)授權(quán)禁止轉(zhuǎn)載。
主站蜘蛛池模板: 亚洲午夜在线观看 | 最近最中文字幕视频 | 中文字幕第8页 | 啪免费视频 | 丰满肥胖大码中年熟妇毛片 | 欧美成人免费草草影院视频 | 五月欧美 | 欧美家庭影院 | 日韩资源网 | 亚洲91在线| 久久v| 老司机午夜精品视频你懂的 | 日韩欧美三级在线 | 精品欧美成人bd高清在线观看 | 国产精品乱 | 国产免费一级高清淫日本片 | 91av综合 | 黄色大片在线免费看 | 日韩最新网址 | 亚洲视频精品在线 | 日本亚洲欧美国产日韩ay高清 | 欧美有码在线观看 | 色片免费网站 | 日韩中文欧美 | 国产你懂的视频 | 影音先锋欧美资源 | 有哪些免费的毛片可以看 | 日本黄色三级视频 | 免费视频中文字幕 | 欧美久久天天综合香蕉伊 | 久久婷婷午色综合夜啪 | 最近日本中文字幕免费完整 | 日韩在线观看视频网站 | 第九色激情 | 免费高清毛片 | 国产成人a在一区线观看高清 | 有色hd| 国产一区二区三区美女秒播 | 手机看片精品高清国产日韩 | 欧美一区二区三区在线观看 | 一区二区三区欧美日韩国产 |