目前，對(duì)于存儲(chǔ)單元SRAM的研究都是基于硬件電路來完成，而且這些方法都是運(yùn)用在生產(chǎn)過程中，但是生產(chǎn)過程并不能完全杜絕SRAM的硬件故障。在其使用過程中，如果SRAM硬件出錯(cuò)，將導(dǎo)致程序出錯(cuò)而且很難被發(fā)現(xiàn)。因此在運(yùn)用的階段，為防止存儲(chǔ)單元損壞而導(dǎo)致系統(tǒng)出錯(cuò)，通過軟件的方式對(duì)SRAM進(jìn)行檢測是必要的。

　　1 SRAM運(yùn)行狀態(tài)分析

　　SRAM是存儲(chǔ)非CONSTANT變量(如RW)，它具有掉電即失的特點(diǎn)。由Cortex—M3的啟動(dòng)步驟可知，系統(tǒng)上電后，首先執(zhí)行復(fù)位的5個(gè)步驟：

　　①NVIC復(fù)位，控制內(nèi)核；

　　②NVIC從復(fù)位中釋放內(nèi)核；

　　③內(nèi)核配置堆棧；

　　④內(nèi)核設(shè)置PC和LR；

　　⑤運(yùn)行復(fù)位程序。

　　可以看出，不能在調(diào)入C環(huán)境之后檢測SRAM，必須在Cortex—M3復(fù)位之前和啟動(dòng)之后進(jìn)行檢測。

　　在執(zhí)行系統(tǒng)復(fù)位的最后一個(gè)步驟之前，系統(tǒng)都沒有對(duì)SRAM執(zhí)行任何相關(guān)的數(shù)據(jù)傳送動(dòng)作。第⑤步運(yùn)行復(fù)位程序，在ST公司Cortex-M3處理器內(nèi)核的STM32系列微控制器的啟動(dòng)代碼中有一段復(fù)位子程序：

　　在這個(gè)子程序里導(dǎo)入了__main，__main是C庫文件的入口地址。它執(zhí)行下面3個(gè)步驟：

　　①復(fù)制非root(RW、RO)從Flash到SRAM；

　　②分配ZI區(qū)，并且初始化為0；

　　③跳轉(zhuǎn)到堆棧初始化子程序接口__rt_entry。

　　由__main的第一步可以得出，在跳入__main之后，系統(tǒng)對(duì)SRAM進(jìn)行了相關(guān)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移的操作。因此，檢測SRAM必須在此步驟之前，否則將會(huì)覆蓋SRAM從Flash中轉(zhuǎn)移過來的數(shù)據(jù)。

　　2 SRAM檢測方案設(shè)計(jì)

　　在復(fù)位子程序跳入__main之前，設(shè)計(jì)另一個(gè)程序入口SRAM_Check，使PC指針指向該SRAM進(jìn)行硬件單元檢測程序(SRAM_Check)的入口。在SRAM_check里，首先將PC指針指向SRAM的首地址并寫入0xFF，讀回該地址的值到通用寄存器Rn1，并對(duì)Rn1里的值進(jìn)行加1操作，然后將Rn1和256做比較，得出SRAM硬件是否損壞。這種操作可以避免因SRAM硬件一直為1或0而出現(xiàn)算法本身錯(cuò)誤。由于Cortex—M3復(fù)位后默認(rèn)的時(shí)鐘為HSI，是一個(gè)內(nèi)部RC振蕩器，因此精度不高。如果需要更準(zhǔn)和快速的時(shí)鐘，就必須在跳入SRAM_Check之前對(duì)相關(guān)的寄存器進(jìn)行操作。

　　3 SRAM檢測軟件設(shè)計(jì)

　　圖1為本文設(shè)計(jì)的SRAM檢測軟件程序流程。

　　4 在線調(diào)試結(jié)果及分析

　　上電復(fù)位后，在線調(diào)試PC指針指向Reset_Handler入口地址時(shí)的SRAM初始數(shù)值如圖2所示。可以看到，當(dāng)系統(tǒng)復(fù)位時(shí)每個(gè)SRAM單元的數(shù)值均為0x00。

　　在線調(diào)試下，圖3為對(duì)所有的SRAM地址進(jìn)行檢測后SRAM的數(shù)值，完全符合程序設(shè)計(jì)要求。

　　SRAM測試通過后，釋放所有的SRAM，還原為0x00，如圖4所示。

　　5 結(jié)論

　　本文提出了一種基于軟件的SRAM單元故障自檢測方法，通過在線調(diào)試得到的結(jié)果，可知該方法是完全可行的。在實(shí)際運(yùn)用中，該方法能夠確保系統(tǒng)正常地運(yùn)行在可靠的環(huán)境之上。如果SRAM單元有生產(chǎn)或運(yùn)輸?shù)葥p壞，也可以通過該方法方便地檢測出來，大大減少了系統(tǒng)排除故障的時(shí)間。