摘? 要：通用的FPGA驗(yàn)證平臺(tái)" title="驗(yàn)證平臺(tái)">驗(yàn)證平臺(tái)在運(yùn)行不同的應(yīng)用時(shí)，其瞬態(tài)電流需求是不同的。本文以Xilinx Virtex-4千萬門級(jí)的FPGA高端IC驗(yàn)證平臺(tái)為例，采用Cadence SQ P1分析工具，對(duì)多種地電平面、電容值、電容的放置位置、電容的類型等進(jìn)行評(píng)估，然后通過修正電容數(shù)量和額定值，調(diào)整電容的布局以及封裝等，達(dá)到符合要求的電源-地平" title="地平">地平面目標(biāo)阻抗，從而將電源/地平面上的噪聲降低到電源的要求范圍。本文提出的電源完整性" title="電源完整性">電源完整性分析方法，對(duì)其他類型的系統(tǒng)板級(jí)" title="板級(jí)">板級(jí)設(shè)計(jì)也有一定的指導(dǎo)意義。
關(guān)鍵詞：瞬態(tài)電流 紋波電壓 目標(biāo)阻抗 去耦電容" title="去耦電容">去耦電容 電源完整性
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