Part13中講到了常用的軌至軌運(yùn)放是采用NMOS與PMOS差分輸入級相并聯(lián)的方法。這一方法巧妙的解決了輸入信號達(dá)不到兩個電源軌的問題。在當(dāng)今軌至軌輸入的運(yùn)放中得到廣泛的應(yīng)用。

       但是這種并聯(lián)差分輸入級的運(yùn)放有一個先天的問題就是輸入失調(diào)電壓交越問題。如下圖所示，為并聯(lián)差分輸入結(jié)構(gòu)的運(yùn)放的輸入前級。

         下圖是這種運(yùn)放的輸入失調(diào)電壓可以看出。隨著共模電壓的升高PMOS在2V（用于舉例的值）左右將關(guān)閉，而NMOS即將打開，就在這個節(jié)骨眼上。運(yùn)放的輸入失調(diào)電壓變生了跳變。這個可以理解，兩組不同結(jié)構(gòu)的輸入級的輸入失調(diào)電壓是不同的，在交接棒時，這個失調(diào)電壓也完成了交接棒。對于直流信號這個問題會引起誤差突變，對于正弦交流信號，這個問題會引起信號的失真。在交越點(diǎn)引入一個小小的臺階。

        為了解決這個問題，TI公司設(shè)計(jì)了兩種領(lǐng)先的差分輸入級。第一種結(jié)構(gòu)如下圖。PMOS差分輸入級能達(dá)到負(fù)電源軌，而達(dá)不到正電源軌，總是差這么1V左右夠不著。我們把輸入級的電源在內(nèi)部提高1.8V。水漲船高，這樣的輸入級就能達(dá)到運(yùn)放的正電源軌。由于只有一組差分輸入級，并不會存在輸入失調(diào)電壓交越的問題。

        這一技術(shù)在TI的單電源運(yùn)放OPAl365上得到應(yīng)用。如下圖。

        到這并沒有結(jié)束，另一種技術(shù)在TI的單電源軌至軌運(yùn)放中得到應(yīng)用。這就是自調(diào)零技術(shù)。下圖使用了自調(diào)零技術(shù)（MOSFET Zero Drift）前后。輸入失調(diào)電壓跳變就非常小了。

        這一技術(shù)在TI的OPA333運(yùn)放中得到應(yīng)用，下表是OPA333的Vcm輸入電壓范圍。