集成電路檢測器 ICS 105 同 ICR 型號的近場微探頭組合使用，可對集成電路（ICS 105 GND 組套）和小型組件（ICS 105 UH 組套）進行高頻近場測量。通過對集成電路的近場分析，能夠在高頻環境下對集成電路的內部過程有準確了解。集成電路的干擾發射問題將通過測量予以分析，找出集成電路中產生干擾發射的部位。

圖 1 近場微探頭 ICRHH 150-27 是一款帶有水平測量線圈的探頭，用于磁場測量。測量分辨率為   50 μm，測量范圍為 1.5 GHz 至 6 GHz。

    除了朗格爾電磁兼容技術有限公司的 ICR 型號近場微探頭之外，還可借助探頭支架 SH 01 將手持式探頭或場源置入到 ICS 105 之中（圖 2）。

    使用不同的 ICR 近場微探頭，可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內分別對磁場或電場進行測量，測量結果通過軟件 CS-Scanner 在電腦上顯示。此外，ICR 近場微探頭可通過旋轉軸自動旋轉 360°，以確定磁場的確切方向。借助視頻顯微鏡，可方便近場微探頭在測量目標上的精確定位。ICS 105 檢測器的最小步進值為 10μm，可實現極高分辨率的測量（圖 1）。

    ICR 型近場微探頭適用于 1.5 MHz 至 6 GHz 頻率范圍內的測量，可達到的測量分辨率約為 50μm。用于磁場測量的近場微探頭可提供兩種不同的基本規格。ICR HV 近場微探頭帶有垂直測量線圈，ICR HH 近場微探頭帶有水平測量線圈。ICR E 近場微探頭的探針頭包括一個水平電極，用于電場測量。

    不同類型的近場微探頭配置齊全，確保在完成各類眾多實際測量任務時能夠選取最佳的探頭型號。

使用近場微探頭可以進行下列測量：

    - 根據標準 IEC61967-3 進行集成電路表面掃描

    - 集成電路容量掃描

    - 針腳掃描

在測量過程中，只在相應測量目標上方移動數個 μm，確保精準的近場數據采集。近場微探頭的外殼中內置前置放大器，通過 Bias-Tee 偏置器供電。

圖 2 ICS 105 是一款桌上設備。緊湊的尺寸（350 x   400 x 420）mm和輕巧的重量（23 kg）令其能夠方便安放在開發人員的工作臺上。

    集成電路檢測器 ICS 105 通過 USB 接口連接至電腦，通過朗格爾電磁兼容技術有限公司的軟件 ChipScan-Scanner（CS-Scanner，芯片掃描器）進行控制（圖 3）?？梢酝ㄟ^軟件控制實現近場微探頭的移動以及復雜測量流程的編程。

圖 3 測量時 ICS 105 同頻譜分析儀和電腦相連。通過測量與分析軟件   CS-Scanner 對 ICS 105 進行控制，對測量結果予以記錄。

    由朗格爾電磁兼容技術有限公司研制的軟件 CS-Scanner 可實現對頻譜分析儀中的測量數據進行讀出、進行圖像顯示（2D 或 3D，圖 4）、對測量數據的保存和輸出（CSV 文件格式）。頻譜分析儀上的最重要設置也可通過軟件進行（圖 5 ）。

圖 4 軟件 ChipScan-Scanner 生成 3D 容積掃描

圖 5 軟件 CS-Scanner 的操作界面。右側為用于所連接頻譜分析儀的操作面板。左上方為測量圖表和跟蹤管理器，對所有已進行的測量予以記錄。

輔以控制與分析軟件 ChipScan-Scanner 的集成電路檢測器 ICS 105

    - 通過電腦/筆記本進行控制

    - 零點位置、近場微探頭手動或基于腳本的移動

    - 從頻譜分析儀中讀出數據

    - 測量數據的 2D 或 3D 圖形顯示

    - 輸出成 csv 文件或圖形文件

    - 在集成電路上進行的自動測量：

    - 根據標準 IEC61967-3 進行集成電路表面掃描

    - 集成電路容量掃描

    - 針腳掃描