文獻標識碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.2017.04.014
中文引用格式: 王帥,黃海生,李鑫,等. 一種10 bit 200 MS/s分段式電流舵DAC設計[J].電子技術應用,2017,43(4):55-57,61.
英文引用格式: Wang Shuai,Huang Haisheng,Li Xin,et al. Design of a 10 bit 200 MS/s segmented current-steering DAC[J].Application of Electronic Technique,2017,43(4):55-57,61.
0 引言
數模轉換器是連接模擬世界和數字世界一個重要的橋梁,它廣泛應用于數字視頻處理、音頻信號處理以及現代通信領域。在不同的應用領域,對DAC的性能要求有所不同。目前比較流行的DAC結構主要有電流舵型和Sigma-Delta型等,Sigma-Delta型DAC雖然精度很高,但是其所能處理的信號頻率較低,不適用于高頻率的通信領域;電流舵型DAC由于速度快、寬頻帶、對寄生參數不敏感等優點被廣泛應用于通信領域[1]。然而,在實際的高速DAC設計中,用于片上系統(SOC)的CMOS DAC對轉換速率和面積、功耗的要求,更是成為具有挑戰性的課題之一。本文基于TSMC 0.18 μm CMOS工藝設計了一種10 bit采樣率為200 MS/s的分段式電流舵型的DAC,應用于LTE通信系統。
1 系統結構
電流舵型DAC通常采用分段式結構[2],因為它結合了二進制碼和溫度計碼的優點,既可以保證高精度的性能,又能使DAC有最佳的面積。本文設計的10 bit電流舵DAC采用6+4的分段方式,即低4位采用二進制碼,高6位采用溫度計碼,如圖1所示。電路的主要模塊包括輸入寄存器、譯碼器電路、時鐘驅動電路,帶隙基準電路、電流源開關單元等,供電電壓為1.8 V。
2 核心電路的設計
2.1 帶隙基準電路
為了保證DAC輸出電流的高精度,一般都要內置高性能的帶隙基準電路,電流的輸出部分采用cascode結構提高電流源的輸出阻抗和電源抑制比,減少其受電源變化的影響。
本設計采用的帶隙基準電路結構如圖2所示。雙極性晶體管Q0上產生負溫度系數的電壓,由于運算放大器的“虛短”特性(V+=V-),因此,右邊支路就會產生負溫度系數的電流。晶體管Q1上方的電阻R3上的壓降為正溫度系數的電壓,所以,R3上也會產生正溫度系數的電流。兩種電流相加,得到了一個零溫度系數的電流。此電路中的運算放大器采用的是一級的套筒式共源共柵結構,不但保證了高增益的要求,而且由于電路極點個數少,所以相對于二級運放有較高的穩定性。由圖2中電路可以看出:假如運放的輸入只由雙極性晶體管的PN結VBE(0.7 V)來提供的,當運放的差分輸入管為NMOS管時,運放的輸入電壓比較低,難以滿足運放共模輸入電壓范圍的要求。因此,本電路采用雙極性晶體管的基極-發射極電壓加上一個電阻來提高運放的共模輸入電壓。如圖2所示,流過M1、M2支路電流相等,所以通過加入阻值相等的電阻R1、R2使得A、B點的電壓提升,從而滿足運放共模輸入電壓范圍的要求。此外,為了保證bandgap脫離零點,必須為電路配備啟動電路,本設計中的啟動電路由控制端EN控制。當EN為“負”時,M0導通,電流隨著下面的3個有源電阻分壓器到達A點,A點電壓不斷增大直到電壓穩定不變,此時帶隙基準電路啟動。隨著電流的不斷增大,M0的漏極電壓升高,最終M0進入線性區,啟動電路退出。
帶隙基準電路的輸出電壓通過一個LDO電路將電壓轉換為穩定的電流,最后通過電流鏡電路將電流復制給DAC的電流源陣列。在本設計中,為了版圖中器件的匹配,Q0、Q1、Q2的面積之比為1:8:1。對于電阻應加入一些dummy電阻做匹配處理,使得電阻周圍的電磁環境對稱。此外,由于DAC的電流源陣列比較大,如果只采用一個LDO做電流鏡,那么版圖中較長的連線會帶來較為明顯的寄生效應,從而引起電流源的失配。因此,本設計中采用多個LDO驅動電流鏡均勻分布于版圖中,減少了過長連線引起的梯度誤差。
2.2 電流源開關單元電路設計
電流源開關單元是電流舵型DAC最重要的模塊,它的輸出阻抗、面積、匹配性等參數直接影響DAC的性能。
DAC的輸出阻抗是與輸入碼相關的,文獻[3]給出了電流舵DAC的INL和SFDR與輸出阻抗的關系:
上式中, N為電流單元的總數,RL為負載阻抗,R0則為電流舵DAC的輸出阻抗。因此,為了保證DAC有較好的INL及SFDR,需要提高輸出阻抗R0。本文設計采用了高輸出阻抗的cascode結構,如圖3所示,4個MOS管都采用PMOS管,這不僅是因為PMOS管相對于NMOS管有更好地匹配性,而且做在N阱中的PMOS管能夠更好地避免噪聲的干擾。當晶體管M1、M2、MSW1導通,MSW2關斷時,M1、M2、MSW1均處于飽和區。因此,由小信號模型可得到其輸出阻抗[4]:
電流源的匹配性主要是由PMOS管的系統性失配誤差和隨機性失配誤差決定[5]。系統性失配誤差可通過在版圖中做中心對稱來減小[6],而隨機性失配誤差主要由工藝決定,它與單位電流源的面積、DAC的微分非線性(DNL)的關系為[7,8]:
可得到cascode電流源M1管的W/L。
本設計在TSMC 0.18 μm工藝下,Aβ約為0.02 μm,AVT約為3 mV·μm,INL_yield取99.7%,ILSB為9.77 μA,在過驅動電壓的絕對值為0.7 V時可得到單位電流源的面積約為7.27 μm2。
3 電路的仿真結果
本文設計是在TSMC 0.18 μm工藝下,利用Cadence SpectreVerilog工具進行仿真[10]。為了達到較好的仿真效果,需要對DAC輸入的數字信號進行處理。本文采用一個Veriloga描述的理想ADC的輸出作為DAC的輸入進行仿真,將仿真數據導入MATLAB軟件進行處理。仿真結果顯示電路的靜態性能DNL的最大值為0.05 LSB,INL的最大值為0.2 LSB,如圖4所示,當輸入正弦信號頻率為0.976 MHz,采樣率為200 MS/s時,DAC的無雜動態范圍(SFDR)為81.53 dB,如圖5所示。
4 結論
基于TSMC 0.18 μm工藝,設計了一個10 bit采樣率為200 MS/s的DAC。電路采用分段式電流舵結構,減小了毛刺的產生。本文還采用了一種低交叉點驅動電路來提高DAC的動態性能。電路采用1.8 V供電,滿偏電流為10 mA,負載電阻為50 Ω。仿真結果顯示DAC的INL最大值不超過0.2 LSB,當輸入信號頻率分別為0.976 MHz和19.04 MHz時,無雜動態范圍(SFDR)分別為81.53 dB和61 dB。所以,此電路可以使用在高速通信領域。
參考文獻
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作者信息:
王 帥,黃海生,李 鑫,尹 強,李東亞
(西安郵電大學 電子工程學院,陜西 西安710121)