| 基于單因素方差分析的密碼算法統計檢驗 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>434 K | |
| 標簽： 單因素方差分析 密碼算法 統計檢驗 | |
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| 文檔介紹：在密碼學范疇中，隨機序列常作為密鑰、初始向量或算法參數使用。隨機序列的隨機性最終決定了整個密碼系統的安全性，因此在密碼技術中占有重要位置。對于良好的密碼算法產生的密文序列，應無法通過統計學方法進行區分。首先對7種經典密碼算法生成的密文序列進行NIST隨機性檢驗，統計失敗次數；然后關于密碼算法進行單因素方差分析，檢驗結果在統計學上無顯著差異。此統計檢驗可作為評價密碼算法好壞的指標之一。 | |
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